Comparison between high level radiated susceptibility tests and coupling measurements

Det är väl känt att Högeffektsmikrovågsstrålning (HPM) kan störa, och även förstöra modern elektronik. Under de senaste åren har bl.a. FOI visat att känsligheten hos modern elektronisk utrustning beror i betydande grad på i vilket riktning som objektet bestrålas. Dessa resultat härstammar från lågnivå-kopplingsmätningar. Skälet till att vi utfört kopplingsmätningar istället för högnivå RS-provning är mycket lägre effekter kan användas, vilket gör dessa mätningar mycket enklare att utföra. Målet är dock att göra en RS-provning, och vi har därför utfört en RS-provning och jämfört resultatet med resultaten från motsvarande kopplingsmätningar. Som provobjekt har vi använt en generisk robot (GENEC), som bestrålats från många riktningar i ett plan. RS-provningen utfördes på så sätt att vi kontrollerade vid vilken påstrålad intensitet som en digital elektronik inuti GENEC stördes. Denna rapport visar att detaljerna i den synbara direktiviteten skiljer sig mellan RS-prov och kopplingsmätningar, men typiska lobbredder och den maximala synbara direktiviteten är nästan identiska.